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科学家发明热发射晶体管,可用于未来的高性能、低功耗、多功能设备

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发表于 2024-8-23 10:35:24 | 显示全部楼层 |阅读模式 IP归属地:亚太地区
晶体管是集成电路的组成部分,随着尺寸的减小,晶体管面临的挑战也越来越大。开发采用新工作原理的晶体管已成为提高电路性能的关键。
热载流子 晶体管利用载流子的过剩动能,具有提高晶体管速度和功能性的潜力。然而,传统热载流子的产生方式限制了其性能。
中国科学院金属研究所刘驰教授、孙东明教授、程惠明教授等研究团队提出了一种新颖的热载流子产生机制,即受激辐射加热载流子(SEHC)。
研究团队还开发出创新的热发射晶体管(HOET),实现了小于1mV/dec的超低亚阈值摆幅和超过100的峰谷电流比,为后摩尔时代提供了一种低功耗、多功能器件的原型。
该项研究成果发表于《自然》杂志。
石墨烯等低维材料由于具有原子级厚度、优异的电学和光学性质、无缺陷的完美表面等特点,很容易与其他材料形成异质结构,从而产生多种能带组合,为开发新型热载流子晶体管提供了新的可能性。
IMR 的研究人员利用石墨烯和锗的组合开发出了一种热发射晶体管,从而为热载流子生成提供了一种创新机制。这种新型晶体管由两个耦合的石墨烯/锗肖特基结组成。
热发射晶体管中的载流子受激发射。图片来源:IMR
在工作过程中,锗将高能载流子注入石墨烯基极,然后扩散到发射极,由于基极的载流子预热,导致电流大幅增加。该设计的亚阈值摆幅小于 1 mV/dec,超过了传统的 60 mV/dec 的玻尔兹曼极限。
同时该晶体管还在室温下表现出超过100的峰谷电流比,这些特性进一步展示了其在多值逻辑计算方面的潜力。
刘教授表示:“这项工作开辟了晶体管研究的新领域,为热载流子晶体管家族增添了一名有价值的成员,并为其在未来高性能、低功耗、多功能设备中的应用展示了广阔的前景。”
更多信息: Chi Liu 等人,基于受激辐射加热载流子的热发射晶体管,《自然》(2024 年)。DOI :10.1038/s41586-024-07785-3
期刊信息: Nature

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